LED暫能熱阻量測系統批發(fā) LED暫能熱阻量測系統是基于*的JEDEC Static Method測試方法（JESD51-1），通過(guò)改變電子器件的的輸入功率，使得器件產(chǎn)生溫度變化。在變化過(guò)程中，系統測試出晶片的瞬態(tài)溫度回應曲線(xiàn)，僅在幾分之內即可分析得到關(guān)于該電子器件全面的熱特性。本系統采用的是“運行中”的即時(shí)測量的方法，結合其精密的硬件，可以快速精確捕捉到高訊噪比的溫度瞬態(tài)曲線(xiàn)。

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